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        半導體測試設備

        簡介:

        非接觸方塊電阻測試儀

        產品詳情

        非接觸無損方塊電阻測試儀

        產地:美國

         

        原理和技術:

        非接觸方塊電阻測量儀使用渦電流(Eddy Current)的測試原理。渦電流(也稱為感應電流)可產生一個磁場,當磁場與導電材料接觸時,會在材料中感應到渦流。根據感應渦流的電流大小,可以計算得到該材料的面電阻(方塊電阻)。

         

        該技術的優勢:

        1.是一種非接觸、無損的測量方式,不破壞材料

        2.可以測量密封在絕緣層內的導電層;

        3.每秒采樣次數高達數萬次,測量速度快;

         

        測量范圍:

        配備不同的測試頭可以測量不同范圍的面電阻。

        10X測試頭:5 ~ 100,000 (Ohms/sq) ;

        1X測試頭:0.5 ~ 10,000(Ohms/sq) ;

        0.1X測試頭:0.05 ~ 1,000(Ohms/sq);

        0.01X測試頭:0.005 ~ 100(Ohms/sq);

         

        應用領域:

        - 防靜電/導電薄膜;

        - 天線;

        - 汽車;

        - 電池;

        - 裝飾薄膜/紙張;

        - 顯示器;

        - 花線電路和柔性電路板;

        - 電鍍;

        - 玻璃窗;

        - 金屬化電容用箔;

        - 金屬化標簽;

        - 微波感應器;

        - 包裝;

        - 雷達吸波材料;

        - 反射和反光材料;

        - 半導體;

        - 太陽能;

        - 透明導電薄膜;

         

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